زمین ه و هدف: هسـته پاراژیگانتوسـلولاریس جانبی (LPGi) در اعـمال مخـتلـفی از قبیل تنـظیم گردش خـون ، رفتار جنسی و درک درد دخالت می نمای د. با توجه به ارتباطات گسترده آن با هسته های دیگر و هم چنین عدم وجود اطلاعات در مورد دخالت آن در بروز علا یم ترک اعتیاد، در این مطالعه اثـر تخریب الکتریکی هسـته پاراژیگانتوسلولاریس جانبی بر علا ی م ترک مورفین ، مورد بررسی قرار گرفته است.
مواد و روشها: در این پژوهش تجربی از موشهای صحرایی N- MARI استفاده شد. حیوانات به سه گروه کنترل، شم و تخریب هسته تقسیم شدند. بعـد از اعمال جراحی هسـته پاراژیگانتوسلولاریـس جانبی در مختـصات 5/10 DP= و 6/1 L=± و 8/11 AP= با جریان الکتـریسیته مستقیم sec) 6 (1m A, به طور دو طرفه تخریب گردید. حیوان ه ا یک دوره بهبودی 10 روزه را طی کردند. برای ایجاد وابستگی، مورفین طی چهار روز و هر روز دوبار به ترتیب 25 ، 30 ، 35 و 40 میلیگرم بر کیلوگرم به صورت داخل صفاقی تزریق شد. در روز پنچم ابتدا حیوان ه ا 40 میلیگرم بر کیلوگرم مورفین دریافت نمودند. و بعد از نیم ساعت جهت القای سندرم ترک از تزریق هیدروکلرور نالوکسان ب ه مقدار 4 میلیگرم بر کیلوگرم به صورت داخل صفاقی به حیوان ه ا استفاده شد. علایم سندرم ترک مانند افتادگی پلک، لرزپاهای جلویی، دندان قروچه، جویدن، لرز بدن، تعداد انزال، روی دوپا ایستادن، Grooming و Wet dog shakes به مدت نیم ساعت مورد بررسی قرار گرفت.
یافتهها: نتایج نشان داد تخریب دوطرفه LPGi تنها باعث کاهش معنیداری در بروز برخی رفتارهای سندرم ترک مانند لرز پاهای جلویی، Wet dog shakes و انزال گردید (02/0 p< ) ، اگرچه بقیه علایم سندرم ترک تحت تأثیر تخریب این هسته قرار نگرفتند.
نتیجهگیری: به نظر می رسد که هسته پاراژیگانتوسـلولاریس جانبی در بروز بعضی از علایم سندروم ترک دخالت دارد.
واژههای کلیدی: تخریب الکتریکی ، پاراژیگانتوسلولاریس ، سندرم ترک، وابستگی به مورفین
بازنشر اطلاعات | |
این مقاله تحت شرایط Creative Commons Attribution-NonCommercial 4.0 International License قابل بازنشر است. |